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Autor(es)
28-ago-2018
Infraestructura metrológica para la caracterización de fuentes de radiación utilizadas en calibración de sistemas de termometría y termografía infrarroja
De Lucas Veguillas, Javier
13-oct-2019
Medida de emisividad espectral para aplicaciones en optrónica en el ámbito Aeroespacial y Defensa
De Lucas Veguillas, Javier
;
Balenzategui Manzanares, J. L.
