Listar por Palabras Clave Optoelectrónica
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| Derechos | Vista previa | Fecha de publicación | Título | Autor(es) |
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 | 28-ago-2018 | Infraestructura metrológica para la caracterización de fuentes de radiación utilizadas en calibración de sistemas de termometría y termografía infrarroja | De Lucas Veguillas, Javier |