(CAB) Comunicaciones de Congresos : [7]

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acceso-restringido.pdf.jpg23-jun-2017Performance analysis of the MEDA's Thermal InfraRed Sensor (TIRS) on board the Mars 2020Sebastián, E.; Pérez, Joel; Bravo, Andrés; Ferrándiz, R.; Fernández, Maite; Rodríguez Manfredi, J. A.; Martínez, G.; Peña, A.; González, David; Moreno, José; De Lucas Veguillas, Javier; Hernández, Pedro; Pérez Grande, I.; Chamorro, Adrián; Ramos, M.
acceso-restringido.pdf.jpg31-may-2012On the use of Particle Swarm Optimization for single snapshot DOA and frequency estimationErrasti Alcalá, B.; Fernández Recio, R.
Caracterización de materiales aeronáuticos.jpg.jpg18-nov-2016Caracterización de materiales aeronáuticos mediante la técnica Metal-Backed Free-Space medidos en la cámara polivalente BIANCHALópez Rodríguez, P.; Hernán Vega, O.; Poyatos Martínez, D.; Trallero Vela, R.; Escot Bocanegra, D.
Caracterización de materiales fabricados mediante tecnología FDM para aplicaciones de Radiofrecuencia.jpg.jpg22-oct-2018Caracterización de materiales fabricados mediante tecnología FDM para aplicaciones de RadiofrecuenciaMartín Iglesias, S.; Muñoz Rebate, I.; León Calero, M.; Fernández Romero, S.; Poyatos Martínez, D.; Plaza Gallardo, B.; Escot Bocanegra, D.
acceso-restringido.pdf.jpg13-dic-2020A far infrared spectrometer for SPICA mission: optical E2E of SAFARIFernández, María Manuela; Arrazola Pérez, D.; Jellema, W.; González, L. M.; García, R.; Belenguer, T.; Torres Redondo, J.; Restrepo, R.; Eggens, M.; Evers, J.; Dieleman, P.
acceso-restringido.pdf.jpg13-dic-2020Calibration strategy for the SPICA/SAFARI instrumentShipman, R. F.; Vandenbussche, B.; Castillo Domínguez, E.; Labiano, Á.; Jellema, W.; Orlando, A.
acceso-restringido.pdf.jpg13-dic-2020The 4K focal plane unit for SPICA's SAFARI far infrared instrumentTorres Redondo, J.; Eggens, M.; García López, Rafael; Pérez Grande, I.; Pérez Álvarez, J.; Chimeno, M.; Arrazola Pérez, D.; Fernández, María Manuela; Belenguer Dávila, T.; González Fernández, L.; Evers, J.; Dieleman, P.; Jellema, W.; Roelfsema, P.; Martín Pintado, J.; Najarro, F.
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