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Metrología y Calibración
(Calib.) Libros y partes de libro : [2]
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Title
Author(s)
13-Oct-2019
Medida de emisividad espectral para aplicaciones en optrónica en el ámbito Aeroespacial y Defensa
De Lucas Veguillas, Javier
;
Balenzategui Manzanares, J. L.
28-Aug-2018
Infraestructura metrológica para la caracterización de fuentes de radiación utilizadas en calibración de sistemas de termometría y termografía infrarroja
De Lucas Veguillas, Javier
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Author
2
De Lucas Veguillas, Javier
1
Balenzategui Manzanares, J. L.
Subject
2
Emisividad
1
Cuerpo Negro
1
Infrarrojo
1
Optoelectrónica
1
Optrónica
1
Sensores
1
Sistemas Optrónicos
1
Termografía
1
Termometría de Radiación