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Infraestructura metrológica para la caracterización de fuentes de radiación.jpg.jpg28-ago-2018Infraestructura metrológica para la caracterización de fuentes de radiación utilizadas en calibración de sistemas de termometría y termografía infrarrojaDe Lucas Veguillas, Javier
acceso-restringido.pdf.jpg21-jun-2014Evaluation of a Portable Apparatus for the Realization of the Triple Point of ArgonDe Lucas Veguillas, Javier; Benyon, R.
acceso-restringido.pdf.jpg16-oct-2011The Calibration of Data Loggers for the Characterization of Sterilization AutoclavesBenyon, R.; De Lucas Veguillas, Javier; Elvira, Gregorio; Fuentes, H.
acceso-restringido.pdf.jpg25-jun-2014Numerical optimization of the radial dependence of effective emissivity in blackbody cylindrical cavitiesDe Lucas Veguillas, Javier
acceso-restringido.pdf.jpg23-jun-2017Performance analysis of the MEDA's Thermal InfraRed Sensor (TIRS) on board the Mars 2020Sebastián, E.; Pérez, Joel; Bravo, Andrés; Ferrándiz, R.; Fernández, Maite; Rodríguez Manfredi, J. A.; Martínez, G.; Peña, A.; González, David; Moreno, José; De Lucas Veguillas, Javier; Hernández, Pedro; Pérez Grande, I.; Chamorro, Adrián; Ramos, M.
acceso-restringido.pdf.jpg30-dic-2015Uncertainty calculation of the effective emissivity of cylinder-conical blackbody cavitiesDe Lucas Veguillas, Javier; Segovia, José Juan
acceso-restringido.pdf.jpg3-ago-2015Validation of a geometrical model for the calculation of the integrated effective emissivity of conical cavities with a lidDe Lucas Veguillas, Javier
Indice-ActasVIConcreso_DESEI_2018.pdf.jpg3-oct-2018Investigación del efecto del tamaño de la fuente en equipos de termografía infrarroja y termómetros de radiaciónDe Lucas Veguillas, Javier; Alonso, S.; Bernal, M.; Ángeles Sierra, M.; Macías, R.
Medida de emisividad espectral.jpg.jpg13-oct-2019Medida de emisividad espectral para aplicaciones en optrónica en el ámbito Aeroespacial y DefensaDe Lucas Veguillas, Javier; Balenzategui Manzanares, J. L.
acceso-restringido.pdf.jpg22-oct-2011Practical Calibration of Platinum Resistance Thermometers in the Range −190 °C to 0 °CDe Lucas Veguillas, Javier; Benyon, R.

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